CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : process-aware SRAM design and test

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Medientyp: Buch
Titel: CMOS SRAM circuit design and parametric test in nano-scaled technologies : process-aware SRAM design and test
Beteiligte: Pavlov, A. P. [VerfasserIn]; Sachdev, Manoj [VerfasserIn]
Erschienen: [London]: Springer, 2008
Erschienen in: Frontiers in electronic testing ; 40
Umfang: XVI, 193 S.; Ill., graph. Darst; 25cm
Sprache: Englisch
ISBN: 9781402083624; 1402083629
RVK-Notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente
Schlagwörter: Metal oxide semiconductors, Complementary Design ; Random access memory ; Nanoelectronics
Entstehung:
Anmerkungen:
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0 : Frontiers in electronic testing

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