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Medientyp: Buch Titel: Test digitaler Schaltkreise Beteiligte: Eggersglüß, Stephan [VerfasserIn]; Fey, Görschwin [VerfasserIn]; Polian, Ilia [VerfasserIn] Erschienen: München: De Gruyter Oldenbourg, 2014 Erschienen in: Studium Umfang: X, 228 S.; Ill., graph. Darst; 240 mm x 170 mm Sprache: Deutsch ISBN: 9783486796698; 9783486720136 RVK-Notation: ST 190 : Schaltungskreistechnik (techn.-physik.), Integrierte Schaltung, spez. Schaltkreise, VLSI, TTL, ECL etc. ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Schlagwörter: Eingebettetes System > Digitalschaltung > Fehlermodell > Built-in self test > Testmustergenerierung Eingebettetes System > Digitale integrierte Schaltung > Qualitätssicherung Entstehung: Anmerkungen: Literaturverz. S. [209] - 224