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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Geometrie-Charakerisierung von Halbleiter-Mikrostrukturen mittels Infrarot-Strahlung Beteiligte: Krupinski, Martin [VerfasserIn] Erschienen: 2014 Umfang: 120 S.; Ill., graph. Darst Sprache: Deutsch RVK-Notation: ZQ 3900 : Berührungslose Messverfahren allgemein ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Schlagwörter: Hochschulschrift Entstehung: Hochschulschrift: Dresden, Techn. Univ., Fak. Elektrotechnik und Informationstechnik, Diss., 2014 Anmerkungen:
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: 2014 8 027001 Barcode: 34116133 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden
Bereichsbibliothek DrePunct – Magazin Signatur: 2014 8 027002 Barcode: 34116132 Status: Bestellen zur Benutzung im Haus, kein Versand per Fernleihe, nur Kopienlieferung > Bestellen möglich - bitte anmelden