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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Scanning spreading resistance microscopy and its application to passive and active semiconductor device characterization Beteiligte: Döring, Stefan [VerfasserIn] Körperschaft: Technische Universität Dresden ; Logos Verlag Berlin Erschienen: Berlin: Logos Verlag, 2017 Erschienen in: NaMLab gGmbH: Research at NaMLab ; 5 Umfang: iv, 171 Seiten; Illustrationen, Diagramme; 21 cm Sprache: Englisch ISBN: 383254450X; 9783832544508 RVK-Notation: ZN 4030 : Prüfverfahren in der Technischen Elektronik allgemein; Fehlererkennungsschaltungen; Test elektronischer Schaltungen und Bauelemente Schlagwörter: Halbleiterbauelement > Ladungsträger > Dotant > Tiefenprofilmessung > Rasterkraftmikroskopie Entstehung: Hochschulschrift: Dissertation, Technische Universität Dresden, 2017 Anmerkungen: Weitere Bestandsnachweise 0 : Research at NaMLab
Bereichsbibliothek DrePunct – Freihand Signatur: ZN 4030 D652 S2 Barcode: 34124387 Status: Ausleihbar
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: 2017 8 015184 Barcode: 34124386 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden
Bereichsbibliothek DrePunct – Magazin Signatur: 2017 8 015183 Barcode: 34124385 Status: Bestellen zur Benutzung im Haus, kein Versand per Fernleihe, nur Kopienlieferung > Bestellen möglich - bitte anmelden