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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: AFM methods for material characterization for nanoelectronics Beteiligte: Kopycinska-Müller, Malgorzata [VerfasserIn] Körperschaft: Technische Universität Dresden Erschienen: Dresden: Technische Universität Dresden, 2016 Umfang: 150 Seiten; Illustrationen, Diagramme Sprache: Englisch RVK-Notation: ZN 3400 : Allgemeines UH 6320 : Rastersondenmikroskopie allgemein Schlagwörter: Hochschulschrift Entstehung: Hochschulschrift: Habilitationsschrift, Technische Universität Dresden, 2016 Anmerkungen:
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: 2017 8 023247 Barcode: 34515286 Status: Ausleihbar, bitte bestellen > Bestellen möglich - bitte anmelden
Bereichsbibliothek DrePunct – Magazin Signatur: 2017 8 023250 Barcode: 34515287 Status: Bestellen zur Benutzung im Haus, kein Versand per Fernleihe, nur Kopienlieferung > Bestellen möglich - bitte anmelden