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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Hyperdoping si with deep-level impurities by ion implantation and sub-second annealing Beteiligte: Liu, Fang [VerfasserIn]; Helm, Manfred [AkademischeR BetreuerIn]; Wendler, Elke [AkademischeR BetreuerIn] Körperschaft: Technische Universität Dresden Erschienen: Dresden: Technische Universität Dresden, [2018] Umfang: viii, 91 Seiten; Illustrationen, Diagramme Sprache: Englisch RVK-Notation: UP 3250 : Dotierung, Strahleneinwirkung auf Halbleiter Schlagwörter: Hochschulschrift Entstehung: Hochschulschrift: Dissertation, Technische Universität Dresden, 2018 Anmerkungen:
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: 2018 4 008320 Barcode: 33115379 Status: Bestellen zur Benutzung im Haus, kein Versand per Fernleihe, nur Kopienlieferung > Bestellen möglich - bitte anmelden