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Medientyp: Buch; Hochschulschrift Titel: Investigation of nanometer scale charge carrier density variations with scattering-type scanning near-field microscopy in the THz regime Beteiligte: Kuschewski, Frederik [VerfasserIn] Körperschaft: Technische Universität Dresden Erschienen: Dresden, 16.Juli 2019 Umfang: 195 Seiten; Illustrationen, Diagramme; 31 cm Sprache: Englisch RVK-Notation: UH 6315 : Spezielle Verfahren (Niederspannungs-Rasterelektronenmikroskopie, Rasterelektronenmikroskopie unter Umgebungsbedingungen, in situ Rasterelektronenmikroskopie Schlagwörter: Halbleiter > Germanium > Graphen > Ladungsträger > Rastersondenmikroskopie Entstehung: Hochschulschrift: Dissertation, Technische Universität Dresden, 2019 Anmerkungen: Das Erscheinungsdatum ist der Tag der Verteidigung Sprache der Kurzfassung: Englisch, Deutsch
Zentralbibliothek – Magazin Signatur: 2020 4 003771 Barcode: 33408999 Status: Bestellen zur Benutzung im Haus, kein Versand per Fernleihe, nur Kopienlieferung > Bestellen möglich - bitte anmelden